Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Infante Abreu, Marta Beatriz.
Otros Autores: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Formato: Tesis eBook
Lenguaje:Spanish
Publicado: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Materias:
Industrial engineering.
Ingeniería industrial.
Libros electrónicos.
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/unanicaragua/90796

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