Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Bibliographic Details
Main Author: Infante Abreu, Marta Beatriz.
Other Authors: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Format: Tesis eBook
Language:Spanish
Published: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/unanicaragua/90796
Description
Physical Description:1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas
Bibliography:Contiene bibliografía.
ISBN:9789591628671 (e book)