Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /

Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bustos Rodríguez, Humberto (autor.)
Otros Autores: Oyola Lozano, Dagoberto (autor.), Rojas Martínez, Yebrail Antonio (autor.)
Formato: eBook
Lenguaje:Spanish
Publicado: Ibagué : Sello editorial Universidad del Tolima, 2024.
Materias:
Ciencia.
Mineralogía > Análisis.
Microscopía.
Espectrometría.
Difracción de rayos X.
Libros electrónicos.
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/unanicaragua/284052

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