Mapping Asian Cropping Intensity With MODIS

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gray, Josh, Friedl, Mark, Frolking, Steve, Ramankutty, Navin, Nelson, Andrew, Gumma, Murali Krishna
Formato: Journal Article
Lenguaje:Inglés
Publicado: Institute of Electrical and Electronics Engineers 2014
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/10568/165496

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