Authors: Ablikim, M., Achasov, M.N., Adlarson, P., Ahmed, S., Albrecht, M., Aliberti, R., Amoroso, A., An, Q., Bai, X.H., Bai, Y., Bakina, O., Baldini Ferroli, R., Balossino, I., Ban, Y., Begzsuren, K., Bennett, J.V., Berger, N., Bertani, M., Bettoni, D., Bianchi, F., Biernat, J., Bloms, J., Bortone, A., Boyko, I., Briere, R.A., Cai, H., Cai, X., Calcaterra, A., Cao, G.F., Cao, N., Cetin, S.A., Chang, J.F., Chang, W.L., Chelkov, G., Chen, D.Y., Chen, G., Chen, H.S., Chen, M.L., Chen, S.J., Chen, X.R., Chen, Y.B., Chen, Z.J., Cheng, W.S., Cibinetto, G., Cossio, F., Cui, X.F., Dai, H.L., Dai, X.C., Dbeyssi, A., de Boer, R.E., Dedovich, D., Deng, Z.Y., Denig, A., Denysenko, I., Destefanis, M., De Mori, F., Ding, Y., Dong, C., Dong, J., Dong, L.Y., Dong, M.Y., Du, S.X., Fang, J., Fang, S.S., Fang, Y., Farinelli, R., Fava, L., Feldbauer, F., Felici, G., Feng, C.Q., Fritsch, M., Fu, C.D., Fu, Y., Gao, X.L., Gao, Y., Gao, Y.G., Garzia, I., Gersabeck, E.M., Gilman, A., Goetzen, K., Gong, L., Gong, W.X., Gradl, W., Greco, M., Gu, L.M., Gu, M.H., Gu, S., Gu, Y.T., Guan, C.Y., Guo, A.Q., Guo, L.B., Guo, R.P., Guo, Y.P., Guskov, A., Han, S., Han, T.T., Han, T.Z., Hao, X.Q., Harris, F.A., He, K.L., Heinsius, F.H., Heinz, C.H., Held, T., Heng, Y.K., Himmelreich, M., Holtmann, T., Hou, Y.R., Hou, Z.L., Hu, H.M., Hu, J.F., Hu, T., Hu, Y., Huang, G.S., Huang, L.Q., Huang, X.T., Huang, Y.P., Huang, Z., Hussain, T., Hüsken, N., Ikegami Andersson, W., Imoehl, W., Irshad, M., Jaeger, S., Janchiv, S., Ji, Q., Ji, Q.P., Ji, X.B., Ji, X.L., Jiang, H.B., Jiang, X.S., Jiao, J.B., Jiao, Z., Jin, S., Jin, Y., Johansson, T., Kalantar-Nayestanaki, N., Kang, X.S., Kappert, R., Kavatsyuk, M., Ke, B.C., Keshk, I.K., Khoukaz, A., Kiese, P., Kiuchi, R., Kliemt, R., Koch, L., Kolcu, O.B., Kopf, B., Kuemmel, M., Kuessner, M., Kupsc, A., Kurth, M.G., Kühn, W., Lane, J.J., Lange, J.S., Larin, P., Lavania, A., Lavezzi, L., Leithoff, H., Lellmann, M., Lenz, T., Li, C., Li, C.H., Li, Cheng, Li, D.M., Li, F., Li, G., Li, H., Li, H.B., Li, H.J., Li, J.L., Li, J.Q., Li, Ke, Li, L.K., Li, Lei, Li, P.L., Li, P.R., Li, S.Y., Li, W.D., Li, W.G., Li, X.H., Li, X.L., Li, Z.Y., Liang, H., Liang, Y.F., Liang, Y.T., Liao, G.R., Liao, L.Z., Libby, J., Lin, C.X., Liu, B., Liu, B.J., Liu, C.X., Liu, D., Liu, D.Y., Liu, F.H., Liu, Fang, Liu, Feng, Liu, H.B., Liu, H.M., Liu, Huanhuan, Liu, Huihui, Liu, J.B., Liu, J.Y., Liu, K., Liu, K.Y., Liu, L., Liu, Q., Liu, S.B., Liu, Shuai, Liu, T., Liu, W.M., Liu, X., Liu, Y.B., Liu, Z.A., Liu, Z.Q., Lou, X.C., Lu, F.X., Lu, H.J., Lu, J.D., Lu, J.G., Lu, X.L., Lu, Y., Lu, Y.P., Luo, C.L., Luo, M.X., Luo, P.W., Luo, T., Luo, X.L., Lusso, S., Lyu, X.R., Ma, F.C., Ma, H.L., Ma, L.L., Ma, M.M., Ma, Q.M., Ma, R.Q., Ma, R.T., Ma, X.N., Ma, X.X., Ma, X.Y., Ma, Y.M., Maas, F.E., Maggiora, M., Maldaner, S., Malde, S., Malik, Q.A., Mangoni, A., Mao, Y.J., Mao, Z.P., Marcello, S., Meng, Z.X., Messchendorp, J.G., Mezzadri, G., Min, T.J., Mitchell, R.E., Mo, X.H., Muchnoi, N.Yu., Muramatsu, H., Nakhoul, S., Nefedov, Y., Nerling, F., Nikolaev, I.B., Ning, Z., Nisar, S., Olsen, S.L., Ouyang, Q., Pacetti, S., Pan, X., Pan, Y., Pathak, A., Patteri, P., Pelizaeus, M., Peng, H.P., Peters, K., Pettersson, J., Ping, J.L., Ping, R.G., Pitka, A., Poling, R., Prasad, V., Qi, H., Qi, H.R., Qi, M., Qi, T.Y., Qian, S., Qian, W.B., Qian, Z., Qiao, C.F., Qin, L.Q., Qin, X.S., Qin, Z.H., Qiu, J.F., Qu, S.Q., Rashid, K.H., Ravindran, K., Redmer, C.F., Rivetti, A., Rodin, V., Rolo, M., Rong, G., Rosner, Ch., Rump, M., Sarantsev, A., Schelhaas, Y., Schnier, C., Schoenning, K., Scodeggio, M., Shan, D.C., Shan, W., Shan, X.Y., Shao, M., Shen, C.P., Shen, P.X., Shen, X.Y., Shi, H.C., Shi, R.S., Shi, X., Shi, X.D., Song, J.J., Song, Q.Q., Song, W.M., Song, Y.X., Sosio, S., Spataro, S., Sui, F.F., Sun, G.X., Sun, J.F., Sun, L., Sun, S.S., Sun, T., Sun, W.Y., Sun, X., Sun, Y.J., Sun, Y.K., Sun, Y.Z., Sun, Z.T., Tan, Y.H., Tan, Y.X., Tang, C.J., Tang, G.Y., Tang, J., Teng, J.X., Thoren, V., Uman, I., Wang, B., Wang, B.L., Wang, C.W., Wang, D.Y., Wang, H.P., Wang, K., Wang, L.L., Wang, M., Wang, M.Z., Wang, Meng, Wang, W.H., Wang, W.P., Wang, X., Wang, X.F., Wang, X.L., Wang, Y., Wang, Y.D., Wang, Y.F., Wang, Y.Q., Wang, Z., Wang, Z.Y., Wang, Ziyi, Wang, Zongyuan, Wei, D.H., Weidenkaff, P., Weidner, F., Wen, S.P., White, D.J., Wiedner, U., Wilkinson, G., Wolke, M., Wollenberg, L., Wu, J.F., Wu, L.H., Wu, L.J., Wu, X., Wu, Z., Xia, L., Xiao, H., Xiao, S.Y., Xiao, Y.J., Xiao, Z.J., Xie, X.H., Xie, Y.G., Xie, Y.H., Xing, T.Y., Xiong, X.A., Xu, G.F., Xu, J.J., Xu, Q.J., Xu, W., Xu, X.P., Xu, Y.C., Yan, F., Yan, L., Yan, W.B., Yan, W.C., Yan, Xu, Yang, H.J., Yang, H.X., Yang, L., Yang, R.X., Yang, S.L., Yang, Y.H., Yang, Y.X., Yang, Yifan, Yang, Zhi, Ye, M., Ye, M.H., Yin, J.H., You, Z.Y., Yu, B.X., Yu, C.X., Yu, G., Yu, J.S., Yu, T., Yuan, C.Z., Yuan, W., Yuan, X.Q., Yuan, Y., Yuan, Z.Y., Yue, C.X., Zafar, A.A., Zeng, Y., Zhang, B.X., Zhang, Guangyi, Zhang, H., Zhang, H.H., Zhang, H.Y., Zhang, J.L., Zhang, J.Q., Zhang, J.W., Zhang, J.Y., Zhang, J.Z., Zhang, Jianyu, Zhang, Jiawei, Zhang, Lei, Zhang, S., Zhang, S.F., Zhang, T.J., Zhang, X.Y., Zhang, Y., Zhang, Y.H., Zhang, Y.T., Zhang, Yan, Zhang, Yao, Zhang, Yi, Zhang, Z.Y., Zhao, G., Zhao, J., Zhao, J.Y., Zhao, J.Z., Zhao, Lei, Zhao, Ling, Zhao, M.G., Zhao, Q., Zhao, S.J., Zhao, Y.B., Zhao, Y.X., Zhao, Z.G., Zhemchugov, A., Zheng, B., Zheng, J.P., Zheng, Y.H., Zhong, B., Zhong, C., Zhou, L.P., Zhou, Q., Zhou, X., Zhou, X.K., Zhou, X.R., Zhu, A.N., Zhu, J., Zhu, K., Zhu, K.J., Zhu, S.H., Zhu, W.J., Zhu, Y.C., Zhu, Z.A., Zou, B.S., Zou, J.H.
Source: Physics Letters
Access URL:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3000::78252a1b8a98e58b81ca4605df0c7568
http://repo.scoap3.org/api
Authors: Hang-Ting Lue, JiFong Pan, Chang, C.S., Szu-Yu Wang, Chang, Y.F., Lee, Y.C., Liaw, M.H., Chen, Y.J., Chen, K.F., Lo, C., Huang, I.J., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Yang, T., Chen, K.C., Kuang-Yeu Hsieh, Chih-Yuan Lu
Source: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p627-633, 7p
Authors: Hang-Ting Lue, Tzu-Hsuan Hsu, Sheng-Chih Lai, Chen, Y.J., Chen, K.F., Chester Lo, Huang, I.J., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Chang, C.S., Liaw, M.H., Kuang-Yeu Hsieh, Chih-Yuan Lu
Source: 2010 IEEE International Memory Workshop (IMW); 2010, p1-4, 4p
Authors: Wen-Jer Tsai, Ou, T.F., Huang, J.S., Cheng, C.H., Chun-Yuan Lu, Wang, T., Chen, K.F., Han, T.T., Lu, T.C., Chen, K.C., Chih-Yuan Lu
Source: 2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Authors: Chienying Lee, Lee, C.H., Cheng, C.H., Chong, L.H., Chen, K.F., Chen, Y.J., Huang, J.S., Ku, S.H., Zous, N.K., Huang, I.J., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Tahui Wang, Chih-Yuan Lu
Source: 2011 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications (VLSI-TSA); 2011, p1-2, 2p
Authors: Wen-Jer Tsai, Tsai, P.H., Huang, J.S., Yan, S.G., Cheng, C.H., Cheng, C.C., Chen, Y.J., Lee, C.H., Hsu, M.C., Han, T.T., Lu, T.C., Chen, K.C., Chih-Yuan Lu
Source: 2011 Symposium on VLSI Technology (VLSIT); 2011, p72-73, 2p
Authors: Yeh, T.H., Lin, S.W., Chen, Y.J., Chen, K.F., Huang, J.S., Cheng, C.H., Chong, L.H., Ku, S.H., Zous, N.K., Huang, I.J., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Wang, T., Lu, C.
Source: 2010 International Symposium on VLSI Technology Systems & Applications (VLSI-TSA); 2010, p48-49, 2p
Authors: Huang, Y.F., Chen, K.F., Chen, K.Y., Wei, K.L., Chen, Y.J., Hsu, M.C., Wu, G.W., Yang, I.C., Han, T.T., Chong, L.H., Gu, S.H., Zous, N.K., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Chih-Yuan Lu
Source: 2010 International Symposium on VLSI Technology Systems & Applications (VLSI-TSA); 2010, p59-60, 2p
Authors: Lee, C.H., Tu, W.H., Gu, S.H., Wu, C.W., Lin, S.W., Yeh, T.H., Chen, K.F., Chen, Y.J., Hsieh, J.Y., Huang, I.J., Zous, N.K., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Tahui Wang, Lu, C.Y.
Source: 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p891-892, 2p
Authors: Lee, C.H., Tu, W.H., Chong, L.H., Gu, S.H., Chen, K.F., Chen, Y.J., Hsieh, J.Y., Huang, I.J., Zous, N.K., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Tahui Wang, Lu, C.Y.
Source: 2009 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications; 2009, p150-151, 2p
Authors: Lee, C.H., Wu, C.W., Lin, S.W., Yeh, T.H., Gu, S.H., Chen, K.F., Chen, Y.J., Hsieh, J.Y., Huang, I.J., Zous, N.K., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Tahui Wang, Lu, C.Y.
Source: 2008 Joint Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop & International Conference on Memory Technology & Design; 2008, p109-110, 2p
Authors: Lee, C.H., Yang, I.C., Chienying Lee, Cheng, C.H., Chong, L.H., Chen, K.F., Huang, J.S., Ku, S.H., Zous, N.K., Huang, I.J., Han, T.T., Chen, M.S., Lu, W.P., Chen, K.C., Tahui Wang, Chih-Yuan Lu
Source: 2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2011, p6B.3.1-6B.3.5, 1p